PCT高温高压蒸煮加速耐老化试验箱/机
高压加速老化试验箱公司外箱均采用304不锈钢板，圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业容器标准，可防止试验中结露滴水设计。圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续200h。自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，门把设计，箱内有大于常压时测试们会被反压保护。
PCT高温高压蒸煮加速耐老化试验箱/机
PCT加速老化试验箱次要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之毛病方式为自动金属化区域腐蚀形成之断路，或封装体引脚间因净化形成短路等。广泛使用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封功能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或零碎的寿命试验时间。
特点优势：
1.设备设计美观大方，唱工精细。
2.采用大容量水箱,试验时间长,不中缀。
3.采用日本“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制波动特点（依客户需求也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。
4. PCT加速老化试验箱的水路配电盘分离，确保设备波动可靠安全。
5.采用高效真空泵，使箱内达到**纯净饱和蒸汽形态。
6.多项安全保护措施,毛病报警显示及毛病缘由和排除方法及功能显示。
